彭樟保

发布时间:2017-06-03    作者:

彭樟保 

2015级博士研究生

厦门大学电子科学系

E-mail: zbpeng(AT)stu.xmu.edu.cn

研究方向:

半导体材料及器件检测技术

教育经历:

2015/09-至今,   厦门大学,    电子科学系,        博士研究生

2012/09-2015/06,湘潭大学,    材料科学与工程学院,硕士

2008/09-2012/06,湖南科技大学,机电工程学院,      学士


科研经历:

2014-2015年参与湖南省自然科学杰出青年基金项目:

服役温度下热障涂层体系力学性能实时表征及破坏机理研究(项目编号:14JJ1020

  

主要研究成果:

[1]Y. Lin, Z. B. Peng, L. H. Zhu, W. Yan, T. M. Shih, T. Z. Wu, Y. J. Lu, Y. L. Gao, Z. Chen, Z. Q. Guo, and Z. G. Liu, Evolution of crystal imperfections during current-stress ageing tests of green InGaN light-emitting diodes, Appl. Phys. Express., vol. 9, no. 9, p. 092101, Jul. 2016.

[2]Z. Q. Guo, T. M. Shih, Z. B. Peng, H. H. Qiu, Y. J. Lu, Y. L. Gao, L. H. Zhu, J. H. Zheng, and Z. Chen, On a relationship among optical power, current density, and junction temperature for InGaN-based light-emitting diodes, AIP. Adv., vol. 7, no. 1, p. 015307, Jan. 2017.
[3]毛卫国, 彭樟保, 戴翠英, 张人发, 佀明森, 方岱宁. 制备适用于高温环境散斑的方法 [P]: 中国, CN103792117A, 2014.

  

获奖和证书情况:

12011, 湖南科技大学获得“国家励志”奖学金

22010, 湖南科技大学获得“校学习优秀奖”

3、计算机国家二级C语言

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